SGW®X-4B顯微熔點儀——慧龍環(huán)科010-59483667

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SGW®X-4B顯微熔點儀測定物質的熔點。用于**、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

SGW®X-4B顯微熔點儀技術指標：
熔點測量范圍：室溫至320℃

測量重復性：±0.1℃（在<200℃時）
       ±0.2℃（在200～300℃時）

光學放大倍數(shù)：40-100倍隨意調節(jié)

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